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SN74BCT8373ADWRG4
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
SN74BCT8373ADWRG4
Logique spécialisée
Texas Instruments
IC SCAN TEST DE
-
Bande et bobine (TR)
6500
1
: $5.6700
: 6500

2000

$5.6700

$11,340.0000

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SN74BCT8373ADWRG4
-
Texas Instruments
IC SCAN TEST DE
-
Bande et bobine (TR)
6500
YES
Paramètres du produit
PDF(1)
TAPERDESCRIPTION
FabricantTexas Instruments
Série74BCT
EmballerBande et bobine (TR)
État du produitOBSOLETE
Colis/Caisse24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Type de montageSurface Mount
Nombre de bits8
Type logiqueScan Test Device with D-Type Latches
Température de fonctionnement0°C ~ 70°C
Tension d'alimentation4.5V ~ 5.5V
Package d'appareil du fournisseur24-SOIC
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