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SNJ54BCT8374AFK
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
SNJ54BCT8374AFK
Logique spécialisée
Texas Instruments
SCAN TEST DEVIC
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Tube
6500
1
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SNJ54BCT8374AFK
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Texas Instruments
SCAN TEST DEVIC
-
Tube
6500
YES
Paramètres du produit
PDF(1)
TAPERDESCRIPTION
FabricantTexas Instruments
Série54BCT
EmballerTube
État du produitACTIVE
Colis/Caisse28-CLCC
Type de montageSurface Mount
Nombre de bits8
Type logiqueScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Température de fonctionnement-55°C ~ 125°C
Tension d'alimentation4.5V ~ 5.5V
Package d'appareil du fournisseur28-LCCC (11.43x11.43)
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