+86-15869849588
  • image of Специальность Логика>SNJ54BCT8373AFK
  • image of Специальность Логика>SNJ54BCT8373AFK
SNJ54BCT8373AFK
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
SNJ54BCT8373AFK
Специальность Логика
Texas Instruments
SCAN TEST DEVIC
-
Трубка
6500
1
image of Специальность Логика>SNJ54BCT8373AFK
image of Специальность Логика>SNJ54BCT8373AFK
SNJ54BCT8373AFK
-
Texas Instruments
SCAN TEST DEVIC
-
Трубка
6500
YES
Параметры продукции 
PDF(1)
ТИПОПИСАНИЕ
ПроизводительTexas Instruments
Ряд54BCT
УпаковкаТрубка
Статус продуктаACTIVE
Пакет/кейс28-CLCC
Тип монтажаSurface Mount
Количество битов8
Тип логикиScan Test Device with D-Type Latches
Рабочая Температура-55°C ~ 125°C
Напряжение питания4.5V ~ 5.5V
Пакет устройств поставщика28-LCCC (11.43x11.43)
captcha

+86-15869849588
0